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什么是射线探伤检测
发布时间: 2021-05-29 11:47 更新时间: 2024-07-16 09:00
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理论上,x射线或γ射线透照或透视用于检查金属成品和半成品中的内部宏观缺陷,统称为射线探伤检测。这种方法用于金属零件检测内部缺陷,主要是在使用光线通过零件后,光线的强度会不同程度地减弱。根据弱化情况,可以判断缺陷的位置,形状,大小和严重程度。

x射线和γ射线,如可见光和无线电波一样,属于电磁波。它们基本相同,具有相同的传播速度,但具有不同的频率和波长,并且射线的波长短且频率高。 x射线由特殊类型的x射线管产生。从阴极灯丝发射的高速电子撞击在阳极靶上,并且一些电子在核场中被急剧阻挡,导致内部电子转变以产生x射线。 γ射线由放射性同位素(例如钴60,铱192,铯137,铥170等)产生。放射性同位素是一种不稳定的同位素。它处于激发状态,其原子核的能级高于基准能级。在释放y射线的同时改变基准水平。

x射线和y射线都具有穿透物质的能力。较大的能量(较短波长)射线在穿透材料时吸收较少,称为硬辐射(或硬射线);具有较小能量(较长波长)的光在穿透物质时被更多地吸收,称为软辐射(或软射线),x射线通常属于硬射线范围。射线穿透物质时的能量损失称为能量衰减。能量的衰减主要是光电子的形成(光电效应)和射线能量的吸收,其次是弹性碰撞(所谓的汤姆逊效应)和非弹性碰撞(即康普顿)和散射引起的射线能量的吸收。除了形成电子对外,还能吸收射线的能量。

射线探伤就是利用射线通过物质被不同程度的吸收这一原理, 来检验金属制件中的缺陷的。 探伤过程可以用下图 来简要地加以说明。

图中 1为射线源, 2为被检验物体,3 为物体内缺陷(气孔),4 为照相底片,5为透照到底片上的射线的强度或感光并冲洗后底片的黑度。 显然, 被检验物体中的缺陷的类型、 形状、 大小和部位等,可以从底片上的影子加以判别。

需要提出的是,在射线探伤工作中,主要是利用物质对射线的吸收这一性能。 物质对射线的散射,对探伤工作不仅无益,反而有不利的影响。


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